Optisch
oppervlaktemeetsysteem voor snelle
contactloze metingen van complexe topografische en geometrische
modellen in het nano-, micro- en macro-meetbereik. Compact stand-alone laboratoriuminstrument inclusief PC.
Voordelen:
-
Eenvoudige en gebruiksvriendelijke bediening
-
Snelle
dataverwerking.
-
Betrouwbare
meetmethode voor een diversiteit in
monsters
-
Micro
ruwheid waarden voor 2D-Profiel - ruwheid
en fouten
-
-
Richtingafhankelijke ruwheidwaarden van oppervlakken - textuur
analyse -
-
Topografie
als 2D-lijnscan, 3D-display
en hoogteprofiel
Applications:
-
Ruwheid analyse op vlakke, gestructureerde en gebogen oppervlakken
-
Dimensioneren van macro-
en micro geometrische
modellen, ontwerpcontrole
-
Oppervlakte controle, bijv.
van rolmatrijzen - optie:
verplaatsbaar instrument
-
-
Gebruik bij
Research &
Development, acceptatie
testen, kwaliteits-, productiecontrole en
schadeanalyse
|
|
